三豐粗糙度輪廓儀SV-C3200S4

日本mitutoyo三豐粗糙度輪廓儀SV-C3200S4高分辨力型Z1軸檢出器作為標(biāo)準(zhǔn)件提供。Z1軸的最高顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時)......

品牌：日本三豐

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產(chǎn)品簡介
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商品名稱	日本三豐粗糙度輪廓儀
型號	SV-C3200S4
測量范圍	100mm
分辨率	0.05um
供應(yīng) 商	佛山市精測計(jì)量儀器設(shè)備有限公司

產(chǎn)品概述
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日本Mitutoyo三豐 粗糙度輪廓儀SV-C3200S4

表面粗糙度測量功能

• 粗糙度測量和輪廓測量一體機(jī),極大的節(jié)約了安裝空間.

• 高分辨力型Z1軸檢出器作為標(biāo)準(zhǔn)件提供。Z1軸的最高顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時)。

• X軸內(nèi)置高精度玻璃光柵尺，直接讀取X軸移動距離，在高精度精準(zhǔn)定位下，完成間距參數(shù)的評價。

• 檢出器測力有4mN和0.75mN可選。

輪廓測量功能

• Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實(shí)現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號相比，新測臂使Z1軸測量范圍增大了10mm 同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，提高了易用性。

• 專為SV-C-4500系列增加了以下兩大特性作為輪廓測量系統(tǒng)的專用功能。

　(1) 裝配雙錐面測針，實(shí)現(xiàn)垂直方向(上/下)連續(xù)測量，所獲取的數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)簡單分析以往難以測量的內(nèi)螺紋有效直徑。

　(2) 測力可在FORMTRACEPAK軟件中設(shè)置。無需調(diào)整配重。

• 卓越的表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK分析程序，通過簡單的操作就能進(jìn)行高級分析并即刻輸出結(jié)果。

產(chǎn)品圖片
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